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原子荧光光谱法(AFS)作为痕量分析技术的一种,有哪些优缺点?
发布时间:2020-05-08   点击次数:470次
原子光谱,是由原子中的电子在能量变化时所发射或吸收的一系列波长的光所组成的光谱。原子光谱法是由原子外层或内层电子能及的变化产生的,表现形式为线光谱。常用的原子光谱有:
1、原子发射光谱法(AES)   
2、原子吸收光谱法(AAS)
3、原子荧光光谱法(AFS)
4、X射线荧光光谱法(XFS)

原子荧光光谱法(AFS)是一种痕量分析技术,是原子光谱法中的一个重要分支。是介于原子发射光谱法(AES)和原子吸收光谱法(AAS)之间的光谱分析技术 ,所用仪器及操作技术与原子吸收光谱法相近。 
 
原子荧光光谱仪(AFS)与原子吸收光谱仪(AAS)和原子发射光谱仪(AES)相比,主要特点是:
1、检出限低,灵敏度高,采用新的高强度光源可进一步降低检出限;
2、谱线简单,干扰少,对ICP -AFS来说,几乎没有光谱干扰和基体干扰,其选择性甚至优于ISP-MS;
3、分析线性范围宽,可达3~5个数量级;
4、由于原子荧光发射的空间多方性,比较容易制造多道仪器,实现多元素的同时测定;5、仪器结构简单,价格便宜,易于普及。
 
尽管原子荧光分析法有许多优点,也还是存在部分不足之处:
1、由于荧光猝灭效应的存在,致其在测定复杂基体样品和高含量样品时,还有一定的困难;
2、原子荧光具有固有的散射光干扰,使得其对激发光源和原子化器有较高的要求,从而导致在现有技术条件下,原子荧光光谱分析理论上所具有的优势在实际中难以充分发挥出来;
3、除HG—AFS在测定As、Sb、Se等易于生成氢化物的元素以及Hg等易于生成蒸气的元素具有独特的优势外,目前AFS测定的元素种类较少;
4、理论上AFS分析的线性范围很宽,但在目前的实际应用中部分元素仍未能达到预想的线性范围;
5、气相、液相干扰机理等尚待进一步研究。

因此,AFS技术在应用方面还不如AAS和AES广泛,三者具有各自的优点和适应范围。这三种方法相互补充,构成一个完整的原子光谱分析体系。



 

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