返回首页 在线留言 联系我们

产品目录

联系方式

北京金索坤技术开发有限公司
联系人:刘亚运
手机:18701029503
传真:010-56370667
地址:北京市中关村科技园区金桥园北区10号楼5层
邮编:101102
网址:www.chinaafs.com
邮箱:032@suokun.com
首页 > 企业动态 > X荧光光谱仪应用新领域

企业动态

X荧光光谱仪应用新领域
发布时间:2012-11-26   点击次数:3749次
     X荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量剖析,元素局限13Al-92U,含量局限ppb至100%,检出限到2pg。

  X荧光光谱仪是一种波长较短的电磁辐射,凡间是指能t局限在0.1^-100keV的光子。X射线光谱仪与物质的互相效果首要有荧光、接收和散射三种。X射线荧光光谱仪是由物质中的构成元素发生的特征辐射,经过侧里和剖析样品发生的x射线荧光,即可获知样品中的元家构成,获得物质成分的定性和定量信息。特征x射线的发生与特征当用高能电子束照耀样品时,人射高能电子被样品中的电子减速,这种带电拉子的负的加快度会发生宽带的延续X射线谱,简称为延续潜或韧致辐射.另一方面,化学元素遭到高能光子或粒子的照耀,如内层电子被激起,则当外层电子跃迁时,就会放射出特征X射线。特征X射线是一种别离的不延续谱.假如激起光源为x射线,则受激发生的x射线称为二次X射线或X射线荧光。特征x射线显示了特征x射线光谱仪发生的进程。当人射x射线撞击原子中的电子时,如光子能量大于原子中的电子约束能,电子就会被击出。这一互相效果进程被称为光电效应,被打出的电子称为光电子.经过研讨光电子或光电效应可以取得关于原子构造和成键形态的信息。在这一进程中,如人射光束的能量大得足以击出外射原子中的内层电子,就会在原子的内壳层发生空穴,这时的原子处于非稳态,层电子会从高能轨道跃迁到低能轨道来充填轨道空穴线的方式释放,原子恢复到稳态.假如空穴在K,L,,多余的能量就会以xM壳层发生,就会响应发生K,L,M系X射线。光电子出射时有能够再次激起出原子中的其他电子,生成的光电子被称为俄歇电子,发生新的光电子。再次这一进程被称之为俄歇效应一元家受激起后辐射出的X射线光子的能量等于受激原子中过渡电子在初始能态和zui终能态的能量差异,即发射的X射线光子能量与该特定元素的电子能态差成正比X射线荧光光谱仪是起原于样品构成的特征辐射.经过侧定和剖析X射线的能量或波长,即可获知其为何种元素,故可用来辨认物质构成,定量剖析物质中的元素含量。
  现在,X荧光光谱仪技能已成功使用于情况、食物链、动植物、农产物、人体组织细胞及器官、生物医学资料、组织细胞、医学试剂、动植物器官、代谢产品中的无机元素测定.当前XRF剖析专家们已遍及走出了纯真进行剖析侧试研讨的范围,普遍展开了剖析数据与所包括信息的相关性研讨,试图提醒出剖析后果与疾病及情况转变等的内涵联络,为疾病诊断与预防、情况猜测与管理等供应科学根据。核技能在医学研讨与使用中据有主要位置,当使用于与人类生命直接相关的医疗范畴时,一方面它可用于医治和诊断,另一方面也能够毁伤安康的细胞,因而放射剂量学研讨在国际上也收到了普遍注重。核技能使用与核资料平安因为与人类生活情况亲密相关,当前更是惹人存眷.
  X荧光光谱仪在资料及毒性物品监侧中的使用
  在人们的日常生涯中,很多资料都含有浓度不等的重金属元素,例如铅、铬、汞等.这些元家对人体有毒有害,其含量如超出答应局限,会极大损害人的安康,包罗人的行为才能和智力程度。因而,欧盟针对塑料产物等的新规范曾经生效,对有毒有害元素含量有了更为严厉的限制。因为我国每年有大徽塑材出口.这一规范的施行对我国原资料出产和出口有着极大的影响。而XRF光谱仪技能则特殊合适于用来监控相关资料中的有毒有害元家的含量,该技能已普遍使用于实践出产质zui节制。此外.XRF光谱仪在无损检测方面,具有其他剖析技能无法比较的长处,应用X射线光谱仪扫描办法探测资料表层下面的缺陷是X射线无损检侧技能的一个主要使用范畴。
         X荧光光谱仪释谱常用方法
         常用的释谱方法有标样光谱比较法和光谱图片比较法。标样光谱比较法是把标样光谱与试样光谱摄在同一感光板上,直接在投影仪上进行比较,确定试样中元素是否存在。光谱图片比较法是把标样光谱预先制成光谱图片,将试样光谱摄在感光板上,然后把感光板上的光谱通过光谱投影仪放大后,与光谱图片的光谱图像进行比较。这种方法应用比较普遍。但感光板的谱线放大倍数往往与图片的比例有偏差,在比较时要注意到这一点,以免看错波长。
       一般必须在光谱带中呈现两条以上的分析线才能确定样品中某个元素的存在,否则,就要检查是否存在干扰,才能zui后确定元素是否存在。检查干扰的方法,首先从波长表或干扰谱线表中查出可能干扰的元素,将试样中不可能存在的元素和光源无法激发的元素从中除去,然后对余下的可能干扰的元素逐一检查,确定干扰是否存在。对于确有干扰的谱线,要找干扰元素的另一条稍强与干扰线的谱线(核对线)进行比较,才能判明待测元素是否存在。

分享到:

返回列表 | 返回顶部
上一篇 : 北京金索坤公司恭贺新老客户新春快乐    下一篇 :  X荧光光谱仪在有色金属中的应用
网站首页 公司简介 产品中心 应用案例 技术支持 企业动态 联系我们
北京金索坤技术开发有限公司 版权所有 总访问量:301997
GoogleSitemap 技术支持:化工仪器网 ICP备案号:京ICP备11009289号-2 营业执照
点击这里给我发消息

化工仪器网

推荐收藏该企业网站